一種使用X射線熒光光譜儀測量鍍層的裝置

　　摘要：本實用新型提供一種使用X射線熒光光譜儀測量鍍層的裝置，包括高壓發(fā)生器、X射線管、準(zhǔn)直器、鏡片、攝像頭、探測器、多道板、計算機，高壓發(fā)生器連接X射線管，X射線管連接準(zhǔn)直器，探測器連接多道板，多道板連接計算機。

專利類型實用新型
申請人上海優(yōu)特化工有限公司;
發(fā)明人宋涵華;
地址201822上海市嘉定區(qū)迎園路400號
申請?zhí)?/b>CN200920072300.5

申請時間2009年05月15日

申請公布號CN201434851Y

申請公布時間2010年03月31日

分類號G01N23/223(2006.01)I;

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