摘要：本發(fā)明提供了一種XRF設備及其樣品自動定位多點測試方法、裝置。樣品自動定位多點測試方法包括：獲取待測樣品在移動平臺上的圖像；顯示所述圖像；獲取用戶在顯示的所述圖像上選擇的多個待測點；根據(jù)用戶選擇的所述至少一個待測點，控制所述移動平臺運動以使所述待測點依次位于測試中心位置處。本發(fā)明特別適用于部分不均勻的樣品，極大地改善了用戶體驗，并提高了測試效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人深圳市西凡謹頓科技有限公司;
- 發(fā)明人胡中衛(wèi);邵波;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區(qū)科豐路二號特發(fā)信息港大廈D棟五樓東側2號
- 申請?zhí)?/b>CN201510492908.3
- 申請時間2015年08月12日
- 申請公布號CN105158285A
- 申請公布時間2015年12月16日
- 分類號G01N23/223(2006.01)I;
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