摘要：本發(fā)明提供了一種XRF設(shè)備及其樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試方法、裝置。樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試方法包括：獲取待測(cè)樣品在移動(dòng)平臺(tái)上的圖像；顯示所述圖像；獲取用戶(hù)在顯示的所述圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn)；根據(jù)用戶(hù)選擇的所述至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn)，控制所述移動(dòng)平臺(tái)運(yùn)動(dòng)以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。本發(fā)明特別適用于部分不均勻的樣品，極大地改善了用戶(hù)體驗(yàn)，并提高了測(cè)試效率。
- 專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
- 申請(qǐng)人深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限公司;
- 發(fā)明人胡中衛(wèi);邵波;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區(qū)科豐路二號(hào)特發(fā)信息港大廈D棟五樓東側(cè)2號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510492908.3
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年08月12日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105158285A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年12月16日
- 分類(lèi)號(hào)G01N23/223(2006.01)I;
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