摘要：本實(shí)用新型涉及一種用于測(cè)量半導(dǎo)體發(fā)光器件結(jié)溫和熱阻等熱性能參數(shù)的半導(dǎo)體發(fā)光器件熱性能測(cè)量裝置。其可與被測(cè)試件相配合，它包括光測(cè)量裝置和溫控裝置，與光測(cè)量裝置、溫控裝置電連接的電驅(qū)動(dòng)、測(cè)量電路，光測(cè)量裝置和溫控裝置呈上下布置，電驅(qū)動(dòng)、測(cè)量電路可與被測(cè)試件電連接。本實(shí)用新型具有的有益效果：1.光測(cè)量裝置和溫控裝置呈上下布置，在裝置上取放半導(dǎo)體發(fā)光器件時(shí)，可調(diào)節(jié)光測(cè)量裝置和溫控裝置相對(duì)位置，操作簡(jiǎn)單方便；2.光電測(cè)量?jī)x能準(zhǔn)確測(cè)量光度量、輻射度量等光參數(shù)；3.散熱器的結(jié)構(gòu)合理，工作時(shí)對(duì)流環(huán)境良好，散熱效果好；4.設(shè)置有定位測(cè)量裝置，用于檢測(cè)光測(cè)量裝置與溫控裝置的相對(duì)位置，避免操作異?，F(xiàn)象的出現(xiàn)。
- 專利類型實(shí)用新型
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2008年09月03日
- 分類號(hào)G01R31/265(2006.01);
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