摘要：半導體發(fā)光器件壽命加速試驗裝置，屬于半導體發(fā)光器件和應(yīng)用產(chǎn)品的測試領(lǐng)域?，F(xiàn)有技術(shù)存在操作復(fù)雜、測量結(jié)果不準確的缺陷，本實用新型包括溫控箱、設(shè)于溫控箱內(nèi)的試驗樣品支承座以及光傳輸器，所述光傳輸器的一端為采集端，采集端與支承座配合設(shè)置，所述的光傳輸器的另一端為測量端，該測量端與測光儀相連，通過設(shè)置光傳輸器使得在實驗升溫工程中可直接用測光儀測得試驗樣品的光功率或光通量，避免了反復(fù)取放、升降溫過程帶來的測量誤差，操作方便。
- 專利類型實用新型
- 申請人杭州浙大三色儀器有限公司;
- 發(fā)明人牟同升;
- 地址310013浙江省杭州市西溪路525號浙大科技園西區(qū)A座225室
- 申請?zhí)?/b>CN200720107239.4
- 申請時間2007年03月13日
- 申請公布號CN201017022Y
- 申請公布時間2008年02月06日
- 分類號G01R31/26(2006.01);
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