輻射探測(cè)器無(wú)源效率刻度的方法

　　摘要：本發(fā)明屬于輻射測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種高純鍺、碲化鋅鎘等輻射測(cè)量探測(cè)器的效率刻度方法。該方法不需要準(zhǔn)確獲得晶體尺寸及靈敏區(qū)尺寸，而僅需依據(jù)探測(cè)器說(shuō)明書(shū)上粗略給出的晶體尺寸，在蒙特卡羅直接計(jì)算基礎(chǔ)上結(jié)合效率傳遞因子，可快速、準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)探測(cè)器的無(wú)源效率刻度。

專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
申請(qǐng)人中國(guó)輻射防護(hù)研究院;
發(fā)明人劉立業(yè);馬吉增;張斌全;潘紅娟;金月如;張勇;任澤仲;
地址030006山西省太原市學(xué)府街270號(hào)
申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200510112535.9

申請(qǐng)時(shí)間2005年10月10日

申請(qǐng)公布號(hào)CN1948996A

申請(qǐng)公布時(shí)間2007年04月18日

分類(lèi)號(hào)G01T1/24(2006.01);

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