摘要：本申請公開了一種大尺寸光學(xué)鏡片表面質(zhì)量檢測方法，包括：對大尺寸光學(xué)鏡片中心部分進(jìn)行面型精度測量，獲取中心部分面型精度值；判斷所述中心部分面型精度值是否在預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)；若所述中心部分面型精度值在預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)，則獲取所述大尺寸光學(xué)鏡片邊緣部分的圖像信息；依據(jù)所述大尺寸光學(xué)鏡片邊緣部分的圖像信息得到所述大尺寸光學(xué)鏡片表面質(zhì)量檢測結(jié)果。應(yīng)用本發(fā)明提供的一種大尺寸光學(xué)鏡片表面質(zhì)量檢測方法時，由于在獲取大尺寸光學(xué)鏡片中心部分面型精度值之后增加了對大尺寸光學(xué)鏡片邊緣部分進(jìn)行質(zhì)量檢測的步驟，對大尺寸光學(xué)鏡片的整個表面進(jìn)行了全面的質(zhì)量檢測，使得大尺寸光學(xué)鏡片表面質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確，提高了檢測準(zhǔn)確率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人長春博信光電子有限公司;
- 發(fā)明人胡天佐;單明星;夏巖巖;
- 地址130012 吉林省長春市高新區(qū)卓越東街155號
- 申請?zhí)?/b>CN201610304685.8
- 申請時間2016年05月10日
- 申請公布號CN106018432A
- 申請公布時間2016年10月12日
- 分類號G01N21/95(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;
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