摘要：本發(fā)明公開了一種采用超聲波快捷測定單晶材料的方法，利用超聲波穿過待測試樣，再采集穿過試樣后的底面回波，通過顯示屏顯示底面回波的波形，如果顯示的波形在底面回波前出現(xiàn)比底面回波小的雜波，則確定待測試樣為非單晶材料；反之則確定待測試樣為單晶材料。本發(fā)明采用超聲波穿過待測產(chǎn)品，通過觀察超聲波的反射波形，即可判斷材料是否為單晶材料，這樣便可顯著提高現(xiàn)場產(chǎn)品檢測效率，是一種經(jīng)濟(jì)適用的檢測方法。本發(fā)明簡單快捷、經(jīng)濟(jì)適用、檢測效率高。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人貴州大學(xué);
- 發(fā)明人孫捷;王芹;黃碧芳;朱紹嚴(yán);袁春;
- 地址550025 貴州省貴陽市花溪區(qū)貴州大學(xué)北校區(qū)科學(xué)技術(shù)處
- 申請?zhí)?/b>CN201510962768.1
- 申請時間2015年12月21日
- 申請公布號CN105548357A
- 申請公布時間2016年05月04日
- 分類號G01N29/04(2006.01)I;
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