摘要：本發(fā)明提供了一種敷型涂覆膜厚度的測(cè)量方法，在獲取元器件的長(zhǎng)度L1、高度H，元器件的器件封裝長(zhǎng)度L2和敷型涂覆膜的光圈長(zhǎng)度L3后，根據(jù)其幾何關(guān)系計(jì)算出元器件周?chē)教箙^(qū)域敷型涂覆膜厚度D。該方法以電路板上的元器件作為測(cè)量點(diǎn)，不需要特殊的布局要求，并可以針對(duì)每個(gè)電子元器件周?chē)M(jìn)行敷型涂覆膜厚度的檢查，準(zhǔn)確的測(cè)量敷型涂覆膜的厚度。
- 專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
- 申請(qǐng)人北京經(jīng)緯恒潤(rùn)科技有限公司;
- 發(fā)明人于紅嬌;董則宇;
- 地址100101 北京市朝陽(yáng)區(qū)安翔北里11號(hào)B座8層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510526666.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年08月25日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105157651A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年12月16日
- 分類(lèi)號(hào)G01B21/08(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;
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