摘要：本發(fā)明公開了一種隱形眼鏡缺陷的自動檢測設備及檢測方法，隱形眼鏡缺陷的自動檢測設備包括圖像采集裝置、托盤、XY移動平臺、照明光源、機架和中央處理計算機；照明光源和XY移動平臺從下到上依次安裝在機架上；托盤置于XY移動平臺上；圖像采集裝置安裝在托盤上方的機架上；圖像采集裝置和XY移動平臺均與中央處理計算機電聯接。本發(fā)明隱形眼鏡缺陷的自動檢測設備，實現了對隱形眼鏡上缺陷的全自動檢測和分析，從而實現了對隱形眼鏡生產過程中質量的自動控制，克服了現有人工質檢存在的各種缺陷，避免了人為錯誤造成的誤判，大幅度提高了生產效率和準確率高，準確率高達99.99％。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人南京愛丁堡環(huán)?？萍加邢薰?南京波長光電科技股份有限公司;
- 發(fā)明人王善忠;鄭少文;張金興;袁麟翥;
- 地址211100 江蘇省南京市江寧區(qū)芝蘭路18號（江寧科學園）
- 申請?zhí)?/b>CN201510650534.3
- 申請時間2015年10月09日
- 申請公布號CN105115989A
- 申請公布時間2015年12月02日
- 分類號G01N21/958(2006.01)I;
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