摘要：本發(fā)明提供一種光合有效光量子傳感器自動檢測、校對系統(tǒng)及方法，系統(tǒng)包括：均勻光源系統(tǒng)(光學(xué)積分球、標(biāo)準(zhǔn)光源、可調(diào)光源、與可調(diào)光源連接的電子衰減器、光探測器、電源柜(與標(biāo)準(zhǔn)及可調(diào)光源連接的電源、與電子衰減器連接的衰減器控制器和與光探測器連接的讀數(shù)表；電源、衰減器控制器和讀數(shù)表均與上位機(jī)連接))、移動光學(xué)平臺(光學(xué)導(dǎo)軌、與光學(xué)導(dǎo)軌及上位機(jī)分別連接步進(jìn)電機(jī)、可移動底座、經(jīng)卡座與支撐桿在其上的校對底盤；與出光口中心同軸的校對底盤中心裝有通過光譜輻射計(jì)與上位機(jī)連接的標(biāo)準(zhǔn)探頭，與上位機(jī)連接的被校傳感器均勻在校對底盤中心預(yù)設(shè)半徑區(qū)域)、光譜輻射計(jì)和上位機(jī)，可對被校傳感器全量程自動校對，提高校對精度與效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京農(nóng)業(yè)信息技術(shù)研究中心;
- 發(fā)明人張馨;張石銳;田宏武;郭瑞;李文龍;吳文彪;喬曉軍;
- 地址100097 北京市海淀區(qū)曙光花園中路11號農(nóng)科大廈A座318b
- 申請?zhí)?/b>CN201510347813.2
- 申請時間2015年06月19日
- 申請公布號CN104964740A
- 申請公布時間2015年10月07日
- 分類號G01J1/00(2006.01)I;
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