摘要：本發(fā)明公開了一種LED光源的光衰測試方法，其步驟是：將LED光源固定在一內(nèi)層表面為黑色的中空筒體內(nèi)的一端，在筒體內(nèi)對應(yīng)位置安裝一個照度計探頭，照度計探頭與LED光源對應(yīng)，讀取照度值；LED光源不動，隔固定時間讀取一個照度值，多次讀取，記錄每個照度值；根據(jù)上述多次讀取的數(shù)據(jù)計算光衰。優(yōu)點是：照度計可直接讀數(shù)，避免了測試儀器造成的測試結(jié)果不準(zhǔn)確：照度計有光就有讀數(shù)，解決了測光距離的問題，內(nèi)層表面為黑色的筒體避免了雜光影響；一次安裝完畢后，直到測量出結(jié)果無需移動LED光源，降低光源位置和角度的影響以及人為讀數(shù)差異，因此提高了測試的準(zhǔn)確性。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人東莞勤上光電股份有限公司;
- 發(fā)明人張進(jìn)發(fā);林志永;
- 地址523565 廣東省東莞市常平鎮(zhèn)橫江廈村
- 申請?zhí)?/b>CN200910181020.2
- 申請時間2009年10月28日
- 申請公布號CN101694401B
- 申請公布時間2011年03月02日
- 分類號G01J1/00(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I;
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