摘要：本發(fā)明公開了一種基于SIFT變換的指紋識別方法，包括以下步驟：基于SIFT變換提取大樣本指紋庫中的指紋的主特征分量，再將主特征分量經(jīng)MD5散列生產(chǎn)散列值，并將庫中所有指紋生成散列表；對在進(jìn)行身份驗(yàn)證時錄入的指紋進(jìn)行同樣的處理，使其生成一個MD5散列值；將驗(yàn)證時散列值與散列表進(jìn)行對比，在大樣本指紋庫中查找與之匹配的指紋。本發(fā)明基于SIFT變換的指紋識別方法通過用SIFT變換來檢測與描述指紋圖像中的局部性特征，并且在尺度空間中尋找關(guān)鍵特征點(diǎn)，提取出關(guān)鍵特征點(diǎn)的描述子，并通過指紋的描述子提取主特征分量，在一定程度上解決了指紋特征提取時因指頭變形、旋轉(zhuǎn)等因素造成的指紋特征提取的魯棒性問題。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人成都佳發(fā)安泰科技股份有限公司;
- 發(fā)明人胡年福;寇健;
- 地址610046 四川省成都市武侯區(qū)武興五路433號2棟8樓
- 申請?zhí)?/b>CN201510280748.6
- 申請時間2015年05月28日
- 申請公布號CN104933407A
- 申請公布時間2015年09月23日
- 分類號G06K9/00(2006.01)I;
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