摘要：本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體激光器測試系統(tǒng)，包括多臺測試儀、控制主機(jī)、測試儀電源線、測試儀供電電源、半導(dǎo)體激光器電源線和數(shù)據(jù)總線；每臺測試儀與每個被測半導(dǎo)體激光器一一對應(yīng)；每臺測試儀通過數(shù)據(jù)總線與控制主機(jī)連接，通過測試儀電源線與測試儀供電電源連接，半導(dǎo)體激光器的電源受測試儀控制；測試儀包括處理器、存儲器、功率傳感器、電壓傳感器、電流傳感器、溫度傳感器和制冷設(shè)備；處理器接收到控制主機(jī)發(fā)送的測試指令后斷開與數(shù)據(jù)總線的電連接，控制上述各傳感器進(jìn)行參數(shù)數(shù)據(jù)采集，將參數(shù)數(shù)據(jù)處理結(jié)果存儲在存儲器中，實(shí)現(xiàn)了同時對多臺半導(dǎo)體激光器的工作穩(wěn)定性的高效、全面準(zhǔn)確測試，且離線測試保證了長期測試過程中數(shù)據(jù)的安全可靠。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京光電技術(shù)研究所;
- 發(fā)明人張麗雯;陸耀東;王濤;任奕奕;宋金鵬;張玉瑩;
- 地址100010 北京市東城區(qū)東皇城根北街甲20號
- 申請?zhí)?/b>CN201510250455.3
- 申請時間2015年05月15日
- 申請公布號CN104880298A
- 申請公布時間2015年09月02日
- 分類號G01M11/00(2006.01)I;
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