摘要：本發(fā)明涉及一種塞曼背景校正光路及其系統(tǒng)。包括：光源發(fā)出光，恒定磁場(chǎng)和原子化器接收光源發(fā)出的光和將光發(fā)送到第一半透半反鏡，第一半透半反鏡接收光、將光分成第一光束和第二光束，并將第一光束沿直線發(fā)送到第一洛匈棱鏡以及將第二光束沿垂直方向反射到第一全反射鏡，第一洛匈棱鏡將第一光束發(fā)送到切光器，第一全反射鏡接收第二光束和將第二光束發(fā)送到第二洛匈棱鏡，第二洛匈棱鏡接收第二光束和將第二光束發(fā)送到第二全反射鏡，第二全反射鏡將第二光束發(fā)送到切光器，切光器機(jī)通過(guò)旋轉(zhuǎn)切光片遮擋第一光束和第二光束兩者之一的光束，并將未被遮擋的光束發(fā)送到單色器和檢測(cè)器。增強(qiáng)了儀器的穩(wěn)定性和可靠性。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京海光儀器有限公司;
- 發(fā)明人杜江;張舜生;甄長(zhǎng)偉;
- 地址100015 北京市朝陽(yáng)區(qū)酒仙橋東路1號(hào)M3樓
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510067759.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年02月10日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN104655272A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年05月27日
- 分類號(hào)G01J3/02(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I;
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