摘要：本發(fā)明屬于原子發(fā)射光譜的定量分析領域，特別涉及一種火花源原子發(fā)射光譜分析中譜線干擾的校正方法。該校正方法中，待測試樣品中包括待測試元素X、干擾元素Ai和Mj；本方法通過對干擾元素Ai和Mj的干擾譜線和干擾規(guī)律的研究，扣除干擾元素的影響，對分析譜線進行自動校正。本發(fā)明用于解決光譜分析過程中因不同元素之間相互干擾導致的定量分析結果不準確的問題，適用于火花或類火花源原子發(fā)射光譜。采用本發(fā)明不必增加任何裝置，不增加分析成本和時間；特別適用于快速且準確的分析任務。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人鋼研納克檢測技術有限公司;
- 發(fā)明人劉佳;馮光;袁良經;賈云海;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)高粱橋斜街13號
- 申請?zhí)?/b>CN201410638489.5
- 申請時間2014年11月06日
- 申請公布號CN104316511A
- 申請公布時間2015年01月28日
- 分類號G01N21/67(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
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