摘要：本發(fā)明公開了一種構(gòu)件的殘余應(yīng)力盲孔檢測法，本發(fā)明的盲孔法就是在工件上鉆一小通孔或不通孔，使被測點的應(yīng)力得到釋放，并由事先貼在孔周位的應(yīng)變計測得釋放的應(yīng)變量，再根據(jù)彈性力學(xué)原理計算出殘余應(yīng)力來。鉆孔的直徑和深度都不大，不會影響被測構(gòu)件的正常使用。并且這種方法具有較高的精度，應(yīng)用比較廣泛。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人蘇州精創(chuàng)光學(xué)儀器有限公司;
- 發(fā)明人尚修鑫;
- 地址215300 江蘇省蘇州市昆山市開發(fā)區(qū)章基路189號
- 申請?zhí)?/b>CN201410609162.5
- 申請時間2014年11月04日
- 申請公布號CN104296894A
- 申請公布時間2015年01月21日
- 分類號G01L1/00(2006.01)I;
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