摘要：本發(fā)明涉及超聲波探傷術(shù)領(lǐng)域，具體而言，本發(fā)明涉及一種超聲波探傷中動態(tài)細分延遲的方法及裝置，其中方法包括獲取陣元的采樣點數(shù)據(jù)；獲取整數(shù)延遲量和分數(shù)延遲量；對所述整數(shù)延遲量進行差分處理得到整數(shù)延遲量變化量；根據(jù)所述整數(shù)延遲量變化量得到連續(xù)的整數(shù)延遲后的采樣序列；根據(jù)所述分數(shù)延遲量對所述采樣序列進行分數(shù)延遲處理，得到精確細分延遲后的采樣點數(shù)據(jù)。通過本發(fā)明實施例，通過差分處理可以使得輸入的采樣序列連續(xù)，不會出現(xiàn)有技術(shù)中的跳變和噪聲，并且通過多組分數(shù)延遲系數(shù)可以提高延遲分辨率的效果。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;
- 發(fā)明人曹永超;彭雪蓮;楊長江;孫磊;
- 地址100085 北京市海淀區(qū)上地西路28號
- 申請?zhí)?/b>CN201310258597.5
- 申請時間2013年06月26日
- 申請公布號CN104251886A
- 申請公布時間2014年12月31日
- 分類號G01N29/44(2006.01)I;
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