摘要：本發(fā)明公開了一種環(huán)境檢測方法和裝置，能夠檢測對電子設(shè)備有影響的環(huán)境值。所述環(huán)境檢測方法應(yīng)用于電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括一環(huán)境檢測裝置，該環(huán)境檢測裝置包括一第一電容檢測板和一設(shè)置為接地的環(huán)境檢測板，環(huán)境檢測板與第一電容檢測板平行設(shè)置，所述方法包括：利用第一電容檢測板檢測第一電容檢測板與環(huán)境檢測板之間的電容，得到第一檢測結(jié)果；判斷第一檢測結(jié)果是否在預(yù)設(shè)電容環(huán)境對照表中的電容范圍內(nèi)，得到一判斷結(jié)果，預(yù)設(shè)電容環(huán)境對照表中至少包括不同環(huán)境值對應(yīng)的電容值；當(dāng)所述判斷結(jié)果表明第一檢測結(jié)果在預(yù)設(shè)電容環(huán)境對照表中的電容范圍內(nèi)時(shí)，從預(yù)設(shè)電容環(huán)境對照表中，查找與第一檢測結(jié)果最接近的電容值所對應(yīng)的環(huán)境值，并輸出。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聯(lián)想（北京）有限公司;
- 發(fā)明人陽光;
- 地址100085 北京市海淀區(qū)上地信息產(chǎn)業(yè)基地上地西路6號
- 申請?zhí)?/b>CN201310094774.0
- 申請時(shí)間2013年03月22日
- 申請公布號CN104062326B
- 申請公布時(shí)間2017年03月01日
- 分類號G01N27/22(2006.01)I;G06F3/042(2006.01)I;
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