摘要：本發(fā)明公開了一種平面度測試方法及其裝置，包括步驟：S1，獲取待測產(chǎn)品表面的高度信息；S2，對獲取得到的信息進行解析，得到X、Y、Z坐標(biāo)值；S3，數(shù)據(jù)采樣，將產(chǎn)品表面相鄰區(qū)域的N*N個點合并為一個點，該點的值取該區(qū)域的平均值；S4，平面擬合，通過最小二乘法計算得到系數(shù)a、b和c，從而得到待測產(chǎn)品表面所在的平面；S5，將產(chǎn)品平面分布的點分為兩類，一類位于產(chǎn)品表面上側(cè)，一類位于產(chǎn)品表面下側(cè)，并得到產(chǎn)品表面上側(cè)和下側(cè)之間的最大距離值，該值即可產(chǎn)品的平面度。本發(fā)明測試得到的平面度精度高，測試效率高。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人廣東正業(yè)科技股份有限公司;
- 發(fā)明人敖薈蘭;許德平;黃美旭;張也;胡軍軍;徐地華;梅領(lǐng)亮;
- 地址523000 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)科技九路2號
- 申請?zhí)?/b>CN201410137894.9
- 申請時間2014年04月08日
- 申請公布號CN103940380A
- 申請公布時間2014年07月23日
- 分類號G01B11/30(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I;
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