摘要：本發(fā)明涉及一種實(shí)現(xiàn)互調(diào)測試中殘余互調(diào)降低的互調(diào)測試系統(tǒng)及方法，其中包括合路器；雙工濾波器，用以將合路信號輸出至被測件或校準(zhǔn)件并接收被測件或校準(zhǔn)件產(chǎn)生的互調(diào)信號；接收機(jī)，用以接收雙工濾波器中產(chǎn)生的互調(diào)信號與被測件或校準(zhǔn)件產(chǎn)生的互調(diào)信號的矢量疊加信號；數(shù)個耦合器；非線性電路，用以接收耦合器耦合后的待測試信號產(chǎn)生內(nèi)部參考互調(diào)信號并發(fā)送至接收機(jī)。采用該種結(jié)構(gòu)的實(shí)現(xiàn)互調(diào)測試中殘余互調(diào)降低的互調(diào)測試系統(tǒng)及方法，使得整個測試系統(tǒng)的殘余互調(diào)達(dá)到更低的水平，降低雙工濾波器的互調(diào)特性對測試結(jié)果的影響，雙工濾波器的互調(diào)值即使比負(fù)載高15～20dB也可以正常測試被測件的互調(diào)值，具有更廣泛的應(yīng)用范圍。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海創(chuàng)遠(yuǎn)儀器技術(shù)股份有限公司;
- 發(fā)明人吳浩發(fā);
- 地址200233 上海市徐匯區(qū)桂箐路69號28幢4樓
- 申請?zhí)?/b>CN201410008797.X
- 申請時間2014年01月08日
- 申請公布號CN103701547B
- 申請公布時間2016年06月15日
- 分類號H04B17/00(2015.01)I;H04B17/30(2015.01)I;
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