摘要：該發(fā)明屬于電子信息技術領域中的天線陣列方向向量的測定方法；包括初始化處理，建立接收信號向量樣本自相關矩陣，確定當前及所有離散方向上噪聲子空間及信號子空間，建立關聯(lián)噪聲子空間矩陣并確定各子空間矩陣最小奇異值，獲取干擾信號方向與測試用信號源方向的角度差，天線陣列方向向量的測定。該發(fā)明在天線陣列接收信號向量樣本的基礎上，采用其樣本自相關矩陣的噪聲子空間、信號子空間、關聯(lián)噪聲子空間矩陣、關聯(lián)信號子空間矩陣以及方向向量的第一個元素等于1的約束關系，實現(xiàn)干擾環(huán)境下對陣列天線方向向量的測定；具有測得的方向向量與實際方向向量之間的相關系數(shù)都大于97%，其中95%的相關系數(shù)都大于99%，相似度極高等特點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人電子科技大學;同方電子科技有限公司;
- 發(fā)明人萬群;徐保根;萬義和;湯四龍;殷吉昊;龔輝;丁學科;周志平;
- 地址611731 四川省成都市高新區(qū)（西區(qū)）西源大道2006號
- 申請?zhí)?/b>CN201210590606.6
- 申請時間2012年12月31日
- 申請公布號CN103017728B
- 申請公布時間2014年11月26日
- 分類號G01C1/00(2006.01)I;
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