摘要：一種用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡。該用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一連接端子組與一第二連接端子組；該第二基板部分嵌合于該第一基板的一表面，且該第二基板的一長度實質(zhì)上小于該第一基板的一長度；該第一連接端子組設置于該第一基板的該表面的一端，且不被該第二基板遮蔽，該第一連接端子組用來與一讀卡器的一第一傳輸端子組接觸以電性導通；該第二連接端子組設置于該第二基板的一端，該第二連接端子組用來在該第一連接端子組與該第一傳輸端子組接觸時與該讀卡器的一第二傳輸端子組接觸以電性導通。本發(fā)明大幅減少測試時間，有效避免人為操作異常與節(jié)省人力成本來提升產(chǎn)能。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人緯創(chuàng)資通(昆山)有限公司;緯創(chuàng)資通股份有限公司;
- 發(fā)明人王震;柳根金;廖兵;高凱;郭建;黃磊;黃印;
- 地址215300 江蘇省昆山市出口加工區(qū)第一大道168號
- 申請?zhí)?/b>CN201110067382.6
- 申請時間2011年03月21日
- 申請公布號CN102692578B
- 申請公布時間2016年04月27日
- 分類號G01R31/01(2006.01)I;
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