摘要：本發(fā)明公開了一種用于質(zhì)譜儀的離子引出透鏡，其包括第一級(jí)透鏡，所述第一級(jí)透鏡下方設(shè)置有第二級(jí)透鏡，所述第二級(jí)透鏡下方設(shè)置有第三級(jí)透鏡，所述第一級(jí)透鏡、第二級(jí)透鏡和第三級(jí)透鏡通過石英柱貫穿固定，所述第二級(jí)透鏡與第三級(jí)透鏡一端連接有一導(dǎo)電電極。所述第一級(jí)透鏡、第二級(jí)透鏡和第三級(jí)透鏡之間通過陶瓷墊片隔開，所述第一級(jí)透鏡上端和第三級(jí)透鏡下端還設(shè)置有陶瓷墊片。所述第二級(jí)透鏡與所述第三級(jí)透鏡之間的陶瓷墊片之間安裝有一彈片結(jié)構(gòu)，所述彈片結(jié)構(gòu)可以防止受熱后的陶瓷墊片損壞。該裝置體積小，聚焦效果好。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人江蘇天瑞儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人應(yīng)剛;任建凱;
- 地址215300 江蘇省昆山市巴城鎮(zhèn)葦城南路1666號(hào)天瑞大廈
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201010194018.1
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年06月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102280346A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2011年12月14日
- 分類號(hào)H01J49/06(2006.01)I;
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