摘要：本發(fā)明公開了一種用于質譜儀的離子引出透鏡，其包括第一級透鏡，所述第一級透鏡下方設置有第二級透鏡，所述第二級透鏡下方設置有第三級透鏡，所述第一級透鏡、第二級透鏡和第三級透鏡通過石英柱貫穿固定，所述第二級透鏡與第三級透鏡一端連接有一導電電極。所述第一級透鏡、第二級透鏡和第三級透鏡之間通過陶瓷墊片隔開，所述第一級透鏡上端和第三級透鏡下端還設置有陶瓷墊片。所述第二級透鏡與所述第三級透鏡之間的陶瓷墊片之間安裝有一彈片結構，所述彈片結構可以防止受熱后的陶瓷墊片損壞。該裝置體積小，聚焦效果好。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人江蘇天瑞儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人應剛;任建凱;
- 地址215300 江蘇省昆山市巴城鎮(zhèn)葦城南路1666號天瑞大廈
- 申請?zhí)?/b>CN201010194018.1
- 申請時間2010年06月08日
- 申請公布號CN102280346A
- 申請公布時間2011年12月14日
- 分類號H01J49/06(2006.01)I;
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