摘要：本發(fā)明公開了一種基于大容量圖像存儲技術(shù)的電路板缺陷離線檢測方法。該方法包括以下幾個步驟：1)使用相機逐區(qū)域的拍攝需要檢測的電路板，并保存每個局部區(qū)域的圖像；2)使用圖像拼接方法將多個單獨區(qū)域的圖像按其所拍攝區(qū)域的位置關(guān)系拼接成一幅完整的圖像；3)使用離線電路板缺陷檢測軟件編輯電路板缺陷檢測程式；4)使用離線電路板缺陷檢測軟件檢測電路板缺陷。通過以上方法和技術(shù)，工程師可以最少的占用PCB生產(chǎn)線上電路板檢測設(shè)備，在離線狀態(tài)可以獲得聯(lián)機狀態(tài)時完全相同的觀察景象，從而顯著的提高了PCB生產(chǎn)線上電路板檢測設(shè)備的利用率，減少了制作缺陷檢測程式的時間。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京優(yōu)納科技有限公司;
- 發(fā)明人鄭眾喜;李鵬杰;劉明星;
- 地址100085北京市海淀區(qū)上地東路9號得實大廈一層北區(qū)5號
- 申請?zhí)?/b>CN200810116850.2
- 申請時間2008年07月18日
- 申請公布號CN101334266A
- 申請公布時間2008年12月31日
- 分類號G01B11/00(2006.01);
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