摘要：本發(fā)明所述的一種薄樣和厚樣兼容測量的X射線能譜儀，包括X射線出射窗口、安全光閘機(jī)構(gòu)、X射線管、干擾光阻斷結(jié)構(gòu)、探測器、薄樣品插槽。其中X射線出射窗口與X射線光束同軸，薄樣品插槽設(shè)于X射線出射窗口與X射線管之間，干擾光阻斷結(jié)構(gòu)設(shè)于X射線管與探測器之間，安全光閘機(jī)構(gòu)設(shè)于X射線管以及探測器與X射線出射窗口之間。本發(fā)明所述一種薄樣和厚樣兼容測量的X射線能譜儀的優(yōu)點在于：它有效的結(jié)合了薄、厚樣技術(shù)檢測儀的長處，既能滿足一般工礦單位對樣品進(jìn)行簡單方便快捷的測量，又可以得到更高精度的測量結(jié)果，滿足實驗研究的需要。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京普析通用儀器有限責(zé)任公司;
- 發(fā)明人田宇纮;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街甲8號威地科技大廈
- 申請?zhí)?/b>CN200610111338.X
- 申請時間2006年08月23日
- 申請公布號CN101131369B
- 申請公布時間2010年06月02日
- 分類號G01N23/20(2006.01)I;
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