所有產(chǎn)品
產(chǎn)品總數(shù)：2644
tzdm介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-A
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)...
￥7800
網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量復(fù)介電常數(shù)GCSTD-A
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)...
￥15000
薄膜介電常數(shù)和損耗測(cè)試儀 GCSTD-A
簡(jiǎn)介:介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、...
￥0
液體相對(duì)介電常數(shù)測(cè)定儀GCSTD-F
簡(jiǎn)介:本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用WY2852A或WY2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ...
￥4800
阻抗測(cè)試儀測(cè)試介電常數(shù)GCSTD-A/B
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)...
￥15800
介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥6980
橢偏儀測(cè)量介電常數(shù)GCSTD-A/B
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)...
￥18000
電橋薄膜介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-B
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)...
￥11100
介電常數(shù)損耗測(cè)試儀GCSTD-D
簡(jiǎn)介:GCSTD-D高低頻介電常數(shù)測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法ASTMD150／IEC60250固體電絕緣材料的（恒久電介質(zhì)）的交流損耗特性和介電...
￥4800
工頻介電常數(shù)檢測(cè)儀GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥5980
智能絕緣材料電阻率測(cè)試儀
簡(jiǎn)介:一、產(chǎn)品概述本儀器主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值，本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器，通過(guò)選配不同的測(cè)試電極，可以滿足和測(cè)試所有不同類型的絕緣材料，如：粉末、片材、薄膜和液體溶液等。本儀器測(cè)試量程比較款，可以到1018Ω，幾乎可以滿足于市場(chǎng)上所有的絕緣...
￥18000
網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)介電常數(shù)GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥8600
絕緣工頻介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥15900
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥12500
優(yōu)質(zhì)的介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-B
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)...
￥14000
介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥135600
std-a介電常數(shù)儀GCSTD-A/B
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)...
￥18500
液體介電常數(shù)測(cè)試儀器 GCSTD-F
簡(jiǎn)介:本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用WY2852A或WY2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ...
￥4800
電容電橋介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-CII
簡(jiǎn)介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量GB/T21216-2007絕緣液體測(cè)量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法GB/T1...
￥156900
固體介電常數(shù)測(cè)定儀GCSTD-A/B
簡(jiǎn)介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測(cè)量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）應(yīng)用對(duì)象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)...
￥19800