一、應用領(lǐng)域:大面積 3D 光學測量系統(tǒng)
先進制造業(yè)
考古學與古生物學
消費類電子產(chǎn)品
醫(yī)療設備
模塑
光學
鐘表業(yè)
1. 亞微米高度可重復性,可擴展整個區(qū)域內(nèi)
每一款 S wide 產(chǎn)品都是為提供準確且可追溯的測量結(jié)果而制造的。系統(tǒng)根據(jù) ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。
5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差:提供幾何差異和公差測量
我們的所有系統(tǒng)精心制造,提供準確、可追溯的測量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標準進行校準:Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。