產(chǎn)品介紹:
本產(chǎn)品適用于冷熱控制技術(shù)相關(guān)的 力學(xué)、電學(xué)、光學(xué) 原位測(cè)試,為先進(jìn)材料、半導(dǎo)體、新能源、生物醫(yī)藥、礦業(yè)等領(lǐng)域提供測(cè)試整體解決方案。
冷熱臺(tái)產(chǎn)品:

常規(guī)探針冷熱臺(tái):

半導(dǎo)體冷熱臺(tái):

XRD原位冷熱臺(tái)

測(cè)試系統(tǒng)與解決方案:
- 介電溫譜/頻譜/阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)
- 電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)
- 電卡測(cè)試系統(tǒng)
- 變溫I-V測(cè)試系統(tǒng)
- 高壓I-V測(cè)試系統(tǒng)
- 熱激勵(lì)去極化電流測(cè)試系統(tǒng)
- OLED變溫光電測(cè)試系統(tǒng)
- 變溫拉曼測(cè)試系統(tǒng)
- DIC變溫拉伸測(cè)試系統(tǒng)
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