電池防爆試驗(yàn)箱：
隔爆型“b”防爆形式，是指隔爆外殼內(nèi)放入可能產(chǎn)生火花，電弧和危險(xiǎn)溫度的零部件，設(shè)備內(nèi)部空間與周?chē)沫h(huán)境通過(guò)隔爆外殼分離開(kāi)來(lái)。
本安型‘i’防爆形式是在設(shè)備內(nèi)部的所有電路都是由在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件下，產(chǎn)生的任何電火花或任何熱效應(yīng)均不能點(diǎn)燃規(guī)定的爆炸氣體環(huán)境的本質(zhì)安全電路。
正壓型‘P’防爆形式，是通過(guò)保持設(shè)備外殼內(nèi)部保護(hù)氣體的壓力壓力高于周?chē)ㄐ原h(huán)境壓力，以達(dá)到安全的目的。
增安型‘e’防爆形式是指采取一些附加措施使正常運(yùn)行條件下不會(huì)產(chǎn)生電弧，火花的電氣設(shè)備更加安全。
沖砂型‘q’防爆形式是一種在外殼內(nèi)充填沙?；蚱渌?guī)定特性的粉末材料，使之在規(guī)定的使用條件下，殼內(nèi)產(chǎn)生的電弧或高溫均不能點(diǎn)燃周?chē)ㄐ詺怏w環(huán)境的電氣設(shè)備保護(hù)型式。
控制器：
采用彩色型5.7寸或10.4寸原裝進(jìn)口微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按鍵型，中英文表示及320×240點(diǎn)的圖形之廣視角，高對(duì)比附可調(diào)背光功能之溫濕度同時(shí)可程控器，具100組程序1000段次記憶，每段99Hour59Min，每段可循環(huán)999次，可任意分割設(shè)定，并附多組PID控制功能.
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全新完美的圓弧造型設(shè)計(jì), 外觀(guān)質(zhì)感高水準(zhǔn),美觀(guān)大方,并采用平面無(wú)反作用把手，操作容易。
進(jìn)口型多功能, 擴(kuò)展性強(qiáng)之專(zhuān)用溫度控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習(xí)容易, 控制穩(wěn)定可靠.可供低溫及超低溫雙重試驗(yàn)
可靠?jī)?yōu)良的均勻送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)長(zhǎng)軸馬達(dá)頂部垂直安裝，防止因長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)而導(dǎo)致的馬達(dá)主軸偏心。
進(jìn)口離心風(fēng)機(jī)結(jié)合水平及垂直角度可調(diào)雙層百葉強(qiáng)制送風(fēng)循環(huán)設(shè)計(jì)，可避免箱內(nèi)的氣流死角,保證箱內(nèi)每個(gè)角落溫濕度均勻度更加一致。
寬敞明亮之大型電熱觀(guān)察視窗：由三層超大型真空鍍膜（加熱膜）視窗及高亮度熒光燈組合而成，可清楚觀(guān)察箱內(nèi)試驗(yàn)樣品，并有效防止因內(nèi)外溫差而引起的水霧形成, 讓使用者可隨時(shí)觀(guān)測(cè)試驗(yàn)箱內(nèi)的狀況。
安全保護(hù). 確保機(jī)器本身,被測(cè)產(chǎn)品及使用者安全，獨(dú)立于主控制器之電子式超溫保護(hù)裝置可設(shè)定受測(cè)對(duì)象之溫度上限保護(hù)。
先進(jìn)的安全、保護(hù)裝置－漏電斷路器、干燒保護(hù)器、缺相保護(hù)器、制冷機(jī)組超壓、過(guò)載、油壓等保護(hù)裝置。
技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍：0℃～150℃
2.溫度均勻度：≤ 2℃ （空載時(shí)）
3.溫度波動(dòng)度：±0.5℃ （空載時(shí)）
4.溫度偏差：≤±2℃
5.升降溫速率：0.7℃～1.0℃/min （空載時(shí)）
6.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999 小時(shí)
7.預(yù)裝容量：4KW
8.工作室尺寸：400×500×500㎜
9.外型尺寸：6500*1150*1560㎜
溫度范圍：-20,-40,-60,-70,-80+100(150)
溫度波動(dòng)度：±0.5
溫度均勻度: ±2.0
升溫速率：12/min
降溫速率：1/min
濕度范圍：3098 R.H（溫度在2580時(shí)）（可設(shè)定恒濕）
濕度波動(dòng)度：±2
濕度偏差：±2.5R.H(濕度75R.H) ±3R.H(濕度75R.H)
溫度交變范圍：-20;-40;-60;-70；-100100(150)（自定）濕度交變范圍：3098 R.H（自定）總功率：5.5KW/6.5KW/8.5KW/11KW/12KW
噪音：＜65dB
?。ǚ辣停﹫?zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.
GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.
GB/ T 2421-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則.
GB/ T 2423.21- 1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:高/低氣壓試驗(yàn)方法 .
GB/ T 2423.25- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法 .
GB/ T 2423.26- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法 .
GB/T2423.3-89電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)規(guī)程，恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4-89交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗(yàn).
GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.
防爆等級(jí)：Exd BT4
GJB/150A-2009.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分
