特點(diǎn)
測(cè)試樣品一直處于靜止?fàn)顟B(tài)，接收設(shè)定的高溫，低溫，濕熱等氣候環(huán)境測(cè)試，有測(cè)試孔，可帶電，帶信號(hào)，帶氣源測(cè)試。新一代外觀(guān)設(shè)計(jì)，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定，運(yùn)行更可靠，維護(hù)更方便，備有萬(wàn)向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)內(nèi)移動(dòng)。超大觸摸屏操作，外觀(guān)更加簡(jiǎn)潔大方，操作更加容易，設(shè)定值實(shí)際值實(shí)時(shí)顯示。真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計(jì)，飛利浦高亮度照明，加熱無(wú)霧氣。為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng)SB 輸出，電腦連接打印?？煽啃愿撸褐饕浼x配銘牌專(zhuān)業(yè)廠(chǎng)商，保證提高整機(jī)可靠性
采用法國(guó)百年“泰康”全封閉制冷壓縮機(jī)組，每臺(tái)機(jī)組均經(jīng)過(guò)歐洲“泰康”電腦聯(lián)網(wǎng)逐項(xiàng)監(jiān)測(cè)并有防偽編碼，可通過(guò)電腦上網(wǎng)查尋。為保證試驗(yàn)箱對(duì)降溫速率和可達(dá)溫度的要求，該試驗(yàn)箱采用雙級(jí)復(fù)疊式制冷系統(tǒng)，復(fù)疊式系統(tǒng)包含一個(gè)高壓制冷循環(huán)和一個(gè)低壓制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器的功能為將低壓循環(huán)的蒸發(fā)器作為高壓循環(huán)的冷凝器之用。制冷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)應(yīng)有能量調(diào)節(jié)技術(shù)，一種行之有效的處理方式是，既能保證在制冷機(jī)組正常運(yùn)行的情況下又能對(duì)制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效的調(diào)節(jié)，使制冷系統(tǒng)的運(yùn)行費(fèi)用和故障率下降到較為經(jīng)濟(jì)的狀態(tài)
本產(chǎn)品禁止：
易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
■型號(hào)規(guī)格:THB-80PF
內(nèi)容積（L）：80L（另有150L，225L，408L，800L，1200L及非標(biāo)選購(gòu)；）
內(nèi)部尺寸（W×H×D）mm：400*400*500mm
■性能
溫度范圍：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度偏差：≤ ±2.0℃
升溫時(shí)間：-20→+150℃≤ 35分鐘（約3℃/min）
降溫時(shí)間：+20→-20℃≤45分鐘（約1.2℃/min）
箱體結(jié)構(gòu)
1、高低溫濕熱試驗(yàn)箱箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀(guān)大方，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。
2、箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀(guān)質(zhì)感和潔凈度。
3、補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動(dòng)保護(hù)，更便利操作者補(bǔ)充水源。
4、大型觀(guān)測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀(guān)測(cè)箱內(nèi)狀況。
5、加濕系統(tǒng)管路與控制線(xiàn)路板分開(kāi)，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。
6、水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門(mén)式開(kāi)啟，方便維護(hù)和檢修。
7、高低溫濕熱試驗(yàn)箱門(mén)與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉。
8、箱體左側(cè)配直徑25mm或50mm或100mm的測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線(xiàn)或信號(hào)線(xiàn)使用。（孔徑或孔數(shù)須增加定貨時(shí)說(shuō)明）
9、機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。
二、執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
1）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
3）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
5）GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
6）GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
