快速溫變試驗箱設備參數
產品型號 | TEE-800PF |
升降溫速率 | 20℃/min |
功能 | 線性/非線性快速溫變試驗,恒溫恒濕試驗,高低溫循環(huán)試驗 |
溫度范圍 | -70℃~150℃ |
濕度范圍 | 20%~98% |
節(jié)能型控制 | 冷端PID智能控制程序,節(jié)能40% |
主要配件 | 法國泰康/德國比澤爾壓縮機,韓國三元控制器,施耐德接觸器 |

優(yōu)勢:
1.仿真產業(yè)界零件、首要配件、半成品,如:電子零件、汽車零件、筆記本計算機等…在氣候環(huán)境溫濕度組合條件下(高低溫操作,貯存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結露實驗等),檢測商品自身的適應能力與特性是不是改動及牢靠度及溫濕度環(huán)境測驗。
2.契合世界性規(guī)范之需求(IEC、JIS、GB、MIL)以到達行業(yè)標準間量測程序*性(含測驗過程、條件、辦法)防止認知不一樣,并縮小量測不確定的要素規(guī)模發(fā)作。
3.完滿的外型規(guī)劃:圓弧外型及霧面線條處置,高質感外觀,并選用平面無反作用把手,操作簡單,安全牢靠。
4.平衡調溫調濕操控體系(BTHC),以P.I.D.方法操控SSR,使體系之加熱加濕量等于熱濕損耗量,故能長時刻安穩(wěn)運用.溫濕度操控準確,升降溫速度疾速、平穩(wěn)、均勻,為運用者節(jié)省寶貴時刻。
5.視界廣大的觀測窗:長方形觀測窗,選用螢光燈堅持箱內亮堂,且運用發(fā)熱體內嵌式玻璃,無須雨刷除霧,隨時堅持明晰的觀測驗驗箱內的情況。
6.加濕體系管路與操控電路別離:加濕體系管路與電源、操控器、電路板別離,可防止因管路漏水而影響電路,進步安全性。
7.簡潔主動供水設備:供水箱選用前置式,于實驗箱面板的下部,便于彌補供水,(容量約為40L)并附用水收回循環(huán)運用設備,節(jié)省用水。
8.由操控面板、配電盤、保溫隔層、送風機、加熱器、加溫器、冷凍機組合而成,首要規(guī)范可區(qū)分為7種規(guī)范尺度及10種不一樣條件之規(guī)范。
9.體系容量:可輸入10組程序×16段,段數可任意切割,程序可自在彼此聯(lián)合。
10.循環(huán)設定:可履行9回次數循環(huán),且可再切割出4組獨立之部份循環(huán)。
11.操控方法與特征:采智能型PID操控SSR正逆雙向同步輸出,使體系之加熱加濕量=熱濕損耗量故能長時刻安穩(wěn)運用,并含斜率操控邏輯。

12.材料設定:觸控式對話框設定形式,操作簡便清晰,內建目錄數據辦理體系。
13.曲線制作:當溫、濕度、時刻材料設定完結,可當即轉成設定曲線,工作中亦可獲取實踐工作曲線之制作。
14.時刻信號:2組時序操控輸出接口,調配10種之時刻操控形式,便利履行外部驅動組件啟/停之時序規(guī)畫。
15.終了溫度時:可選擇履行回來常溫之狀況,以利測驗物取出。
16.安全檢知:10項全功用之體系偵測,保證機臺工作安全.并可主動顯現(xiàn)異常緣由。
17.外部維護:獨立于主操控器之電子式超溫維護設備,可設定受測目標之溫度上限維護。
18.通訊接口:附RS-232及RS-485之規(guī)范通訊接口設備,可與個人計算機(PC)一起聯(lián)機多機操控及辦理(需格外約好設備方有裝備)。
19.USB無紙記載儀設備:可選購128或256MB回憶容量之USB無紙記載儀設備,以替代傳統(tǒng)貴重之走紙記載器;具自我確診之功用,記載距離可自在選擇(需格外約好設備方有裝備)。20.可擴大(需格外約好設備方有裝備)。USB無紙記載儀材料讀取設備;玻璃內門(附操作孔);溫濕度主動記載器 ;

滿足標準:1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件;2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件;3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件;4.GB2423.1-89低溫試驗Aa,Ab ;5.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗Ca;6.MIL-STD810D方法502.2;7.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;8.GJB150.9-8 濕熱試驗;9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗。10.IEC68-2-1 試驗A11.IEC68-2-2 試驗B 高低溫交變12.IEC68-2-14 試驗N

高低溫快速溫變試驗箱主要用于考察產品熱機械性能引起的失效,溫度變化率一般小于20℃/分鐘,實現(xiàn)以*快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件。當構成產品各部件的材料熱匹配較差,或部件內應力較大時,溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產品由機械構缺陷劣化產生的失效。一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。
