應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。
采用根據(jù)畫(huà)面顯示，通過(guò)觸摸畫(huà)面即可輕松進(jìn)行設(shè)定操作的10.4英寸大型彩色觸摸屏計(jì)測(cè)裝置。試驗(yàn)規(guī)格、試驗(yàn)區(qū)溫度、溫度循環(huán)，趨勢(shì)圖顯示等一目了然，可記錄90天的參數(shù)功能（相當(dāng)于配備無(wú)紙記錄儀）。
此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)及測(cè)試區(qū)三部分，采用獨(dú)特的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，采用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測(cè)試.
采用原裝日制微電腦大型液晶(320*240dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱有高程式記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存100組程式，循環(huán)設(shè)定9999cycles,每段時(shí)間設(shè)定999Hrs59Mins.
具有RS-232C通信介面裝置，可與電腦連線控制/編輯/記錄及十組動(dòng)態(tài)鏈接(TIMER SINGAL RELAY),使用便捷。執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2 Zone 或3 Zone之功能。
具備全自動(dòng)，高精度系統(tǒng)，任一機(jī)件動(dòng)作，完全由P.L.C鎖定處理。
產(chǎn)品用途：
TEB系列快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實(shí)現(xiàn)以快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問(wèn)題的有效方法。
箱體結(jié)構(gòu)：
1、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式：冷熱沖擊箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱，位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀，制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi)，以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響，同時(shí)便于機(jī)組的安裝和維修，電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。
