應力篩選試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗產(chǎn)品的各項性能指標。
采用根據(jù)畫面顯示，通過觸摸畫面即可輕松進行設(shè)定操作的10.4英寸大型彩色觸摸屏計測裝置。試驗規(guī)格、試驗區(qū)溫度、溫度循環(huán)，趨勢圖顯示等一目了然，可記錄90天的參數(shù)功能（相當于配備無紙記錄儀）。
此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)及測試區(qū)三部分，采用獨特的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，采用冷熱風路切換方式導入試品中，做冷熱沖擊測試.
采用原裝日制微電腦大型液晶(320*240dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。
冷熱沖擊試驗箱有高程式記憶容量，可設(shè)定儲存100組程式，循環(huán)設(shè)定9999cycles,每段時間設(shè)定999Hrs59Mins.
具有RS-232C通信介面裝置，可與電腦連線控制/編輯/記錄及十組動態(tài)鏈接(TIMER SINGAL RELAY),使用便捷。執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2 Zone 或3 Zone之功能。
具備全自動，高精度系統(tǒng)，任一機件動作，完全由P.L.C鎖定處理。
產(chǎn)品用途：
TEB系列快速溫變試驗箱主要用于考察產(chǎn)品熱機械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實現(xiàn)以快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件。當構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。
箱體結(jié)構(gòu)：
1、試驗箱結(jié)構(gòu)形式：冷熱沖擊箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗箱由位于上部的高溫試驗箱，位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀，制冷機組置于獨立的機組箱體內(nèi)，以減少制冷機組運行時的震動、噪聲對試驗箱的影響，同時便于機組的安裝和維修，電器控制面板置于試驗箱的左側(cè)板上以便于運行操作。
