TEB系列線性快速溫變試驗(yàn)箱 免費(fèi)技術(shù)支持
TEB系列快速溫變試驗(yàn)箱主要用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實(shí)現(xiàn)以快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。
適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。
型號TEB-8000PF
內(nèi)容積:800L
降溫速率5℃/10℃/15℃/20℃/25℃
升溫速率5℃/10℃/15℃/20℃/25℃
溫度范圍-40℃~+150℃
加熱器鎳鉻合金電加熱器
制冷劑R404a/R23
滿足試驗(yàn)方法：
GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GJB 150.3A—2009 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A—2009 低溫試驗(yàn)
GB/T2423.22—2008 試驗(yàn)Nb 溫度變化試驗(yàn)
產(chǎn)品制造標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GB/T5170.2 基本參數(shù)檢定方法
制冷原理：
溫度快速變化試驗(yàn)箱高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換，將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的。
