半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀,粉末電阻率儀 型號；HAD-2722
概述
HAD-2722型半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
儀器組成： 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大分組成。
主機 是整個系統(tǒng)電氣控制顯示核心分，主要由密恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)單元以及壓力厚度顯示單元組成。
粉末測試臺 是連接測試主機，用來裝夾半導(dǎo)體粉末（含分子粉末和金屬粉末等），行壓力施加（壓片），并同步行電阻率測試的裝置（以下簡稱測試臺）。
測試臺為粉末標準容器、電、加壓機構(gòu)、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。
優(yōu)勢征：測試臺設(shè)計，符合標和行業(yè)規(guī)范，內(nèi)，并獲家。有兩款。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關(guān)標和行業(yè)標準。采用際通用的電流、電壓四端子測量法（儀器電流源和電壓表兩個單元分別從立回路連至電同時和樣品接觸），可以消除電與連接導(dǎo)線導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復(fù)性也好。
四探針法測試臺設(shè)計符合符合新GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復(fù)合磷酸鐵鋰正材料》
中關(guān)于粉末電阻率測試的原理和規(guī)范，參照GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美A.S.T.M 標準。
四探針法同步壓力連續(xù)測試粉末“電阻率-壓強曲線，”
內(nèi)，行業(yè)，行業(yè)推薦粉末電阻率標準測試方式。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
壓力機構(gòu)采用手動操作，壓力（壓強）平穩(wěn)可調(diào)、可保持。電子傳感器自動同步檢測、顯示壓力（壓強）值和樣本度。故本測試臺可邊加壓邊同步測試電阻率，可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓強”的性能曲線；也可以單作為粉末壓制成片的具使用，成片后可脫模取出，用普通四探針法測試相關(guān)參數(shù)！
本測試儀配有成套PC軟件，故不但可以單（脫機）操作，還可以連接PC軟件，自動保存當(dāng)前測試數(shù)據(jù)、查詢并統(tǒng)計分析歷史數(shù)據(jù)、打印測試報告等！
本儀器具有測量度，操作簡便、穩(wěn)定性好，重復(fù)性好，機多用使用方便等點。也是區(qū)別于以往舊款測試臺新點！ 本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質(zhì)量的種重要優(yōu)良具。

三、術(shù)參數(shù)
1. 電阻率測量范圍、分辨率
電 阻 率： 15.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）