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北京美華儀科技有限公司（MHY）
MHY-13233
詳細說明
二氧化碳激光光束測試儀
型號：MHY-13233
該產(chǎn)品用于對大直徑光束、強激光輸出的二氧化碳激光遠場光束質(zhì)量的測試和分析。
可以測量激光光斑的形態(tài)與相對激光率。具有豐富的圖像處理能
遠場激光光強分布顯示及遠場激光光束寬度、中心漂移測量
遠場發(fā)散角測量
激光平均率相對測量及顯示
儀器的接收靶面積為1000mm×1000mm, 均勻性好、抗破壞閾值、直接承受強激光照射
折疊式結(jié)構(gòu)方便了使用、運輸與存儲
適用激光波長 10.6mm
靶面尺寸 1000mm×1000mm
靶面漫反射率 ≥60%
大激光率密度 80W/cm2
光束中心漂移測量不確定度 (±)20mm
激光率相對測量不確定度 (±)10%
激光率相對測量小分辨率 1W
激光率相對測量響應(yīng)時間 10s
大激光能量密度 1J/cm2
大激光峰值率密度 800W/cm2
靶面均勻性 (±)15%
電源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
大耗 50W
外型尺寸(L×W×H) 漫射靶 1230mm×1080mm×1080mm
主機 400mm×250mm×180mm
重量 漫射靶 ≤65 kg
主機 ≤10 kg
作溫度 0℃~ 50℃
型號：BGS-6341
該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子線上和科研、教學等域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學零件面形和平整度面形、 基片曲率
半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出場面型分布結(jié)果, 適合于微電子線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗和微電子藝研究。
儀器基于干涉計量的場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應(yīng)力集中位置, 及時淘汰早期失效產(chǎn)品。
際的錯位相移
計算機自動條紋處理
測試過程自動
的曲面補償測試原理
大樣品尺寸 ≤100mm (4英寸)
曲率范圍 |R|≥5米
測試度 5%
單片測量時間 3分鐘/片
結(jié)果類型 面形、曲率半徑、應(yīng)力分布、公式表示、數(shù)據(jù)表格
圖形顯示能 三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截面曲線顯示
電源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
大耗 100W
外型尺寸(L×W×H) 285mm×680mm×450mm
重量 36kg
北京美華儀科有限公司
聯(lián)系人：段經(jīng)理
電話：13366423197/010-51665884
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