熒光X射線涂層測厚儀/X射線涂層測厚儀 型號：DPEX-2000
熒光X射線涂層測厚儀非接觸、非損壞地行測量，適用于各種鍍層及多層鍍層、合金鍍層、貴金屬的薄鍍層等的厚度測量。
測量面積小為0.05mm,可測量形狀復(fù)雜的細(xì)致的物品。
內(nèi)置5種準(zhǔn)直孔，自動設(shè)定x線的輸出。
可提供光譜分析。
可檢測范圍：原子序號22-24:0.2- 約20
原子序號25-40:0.1- 約30
原子序號41-51:0.2- 約70
原子序號52-82:0.05-約10
應(yīng)用：單層鍍層測定
薄單層鍍層測定
2層鍍層測定
同時測定合金金屬鍍層成分比
測定無電解鎳
同時檢測鑄鋅基材料上的銅、鎳2層鍍層.
