磁阻法測厚儀/測厚儀    型號：HA8-HCC-24

可快速無損地測量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應(yīng)用，使本儀器具有操作簡 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量度的優(yōu)點。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計能，可直接顯示測量的平均值、大值、小 值、標準偏差及測量次數(shù)等統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
磁阻法測厚儀 采用電磁感應(yīng)原理行測量，符合際標準 ISO2178和家標準GB4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探頭和磁性基體構(gòu)成閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量，經(jīng)電腦行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測量值
磁阻法測厚儀 術(shù)參數(shù)
1）測量范圍： 0μm～1200μm。
2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測涂層厚 度。
3）分 辨 率： 1μm。
4）小測量面的直徑： φ10 mm。
5）顯 示： 4位LCD顯示測量的平均值、大值、小值、標準偏差和測量次數(shù)，同時示儀器的作狀態(tài)及電池使用情況。
6） 電 源：節(jié)6F22型9V電池。
7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。
8） 質(zhì) 量：約250g。
9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。

 

2.

產(chǎn)品名稱：體式照度計 照度計 產(chǎn)品型號：XM-AR813A