廠家：上海無(wú)線電21廠
XJ-4810型半導(dǎo)體特性圖示儀，是一種用示波管顯示半導(dǎo)體器件的各種特性曲線，并可測(cè)量其靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試儀器。
1.1 本儀器主要由以下幾個(gè)部分組成：
1.1.1 Y軸放大器及X軸放大器。
1.1.2 階梯信號(hào)發(fā)生器
1.1.3 集電極掃描發(fā)生器
1.1.4 主電源及高壓電源部分
1.2 本儀器是繼JT-1后的開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，它除了繼承JT-1的優(yōu)點(diǎn)外，作了較大改進(jìn)與提 高，它與其他半導(dǎo)體管特性圖示儀相比，具有以下特點(diǎn)：
1.2.1 本儀器采用全晶體管化電路、體積小、重量輕、攜帶方便。
1.2.2 增設(shè)集電極雙向掃描電路及裝置，能同時(shí)觀察二極管的正反向輸出特性曲線、簡(jiǎn)化測(cè)試手續(xù)。
1.2.3 配有雙簇曲線顯示電路，對(duì)于中小功率晶體管各種參數(shù)的配對(duì)，尤為方便。
1.2.4 本儀器專為工作于小電流超b晶體管測(cè)試作了提高，小階梯電流可達(dá)0.2μA/級(jí)
1.2.5 本儀器還專為測(cè)試二極管的反向漏電流采取了適當(dāng)措施，使測(cè)試的IR達(dá)20nA/div。
1.2.6 本儀器配上它的擴(kuò)展裝置—XJ27100場(chǎng)效應(yīng)管配對(duì)測(cè)試臺(tái)可對(duì)國(guó)內(nèi)外各種場(chǎng)效應(yīng)對(duì)管和單管進(jìn)行比較測(cè)試。
1.2.7 本儀器配上它的擴(kuò)展裝置—XJ27101數(shù)字集成電路電壓傳輸特性測(cè)試臺(tái)，可測(cè)試CMOS，TTL數(shù)字集成電路的電壓傳輸特性。
XJ4810型半導(dǎo)體管特性圖示儀，功能操作方便，它對(duì)于從事半導(dǎo)體管機(jī)理的研究及半導(dǎo)體
在無(wú)線電領(lǐng)域的應(yīng)用，是一個(gè)必不可少的測(cè)試工具。
主要技術(shù)指標(biāo)
2.1 Y軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)
集電極電流范圍（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15檔，誤差不超過(guò)±3%。
二極管反向漏電流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5檔。
2μA/div-5μA/div 誤差不超過(guò)±3%。
0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤差分別不超過(guò)±20%、±10、±5%
基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過(guò)±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差不超過(guò)±3%。
偏轉(zhuǎn)倍率 ×0.1 誤差不超過(guò)±（10%+10nA）。
2.2 X軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)
集電極電壓范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔 誤差不超過(guò)±3%。
基極電壓范圍 0.05V/div—1V/div 分5檔 誤差不超過(guò)±3%。
基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過(guò)±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差不超過(guò)±3%。
2.3階梯信號(hào)
階梯電流范圍： 0.2μA/級(jí)-50mA/級(jí) 分17檔
1μA/級(jí)-50mA/級(jí) 誤差不超過(guò)±5%。
0.2μA/級(jí)、0.5μA/級(jí) 誤差不超過(guò)±7%。
階梯電壓范圍： 0.05V/級(jí)-1V/級(jí) 分5檔 誤差不超過(guò)±5%。
串聯(lián)電阻： 0、10KΩ、1MΩ 分3檔 誤差不超過(guò)±5%
每簇級(jí)數(shù)； 1—10連續(xù)可調(diào)
每秒級(jí)數(shù)： 200
極性： 正、負(fù) 分2檔
2.4 集電極掃描信號(hào)
峰值電壓與峰值電流容量：各檔級(jí)電壓連續(xù)可調(diào)，其輸出不低于下表要求（AC例外）
檔級(jí) 198V 220V 242V
0—10V 檔
0—9V 5A
0—10V 5A
0—11V 5A
0—50V 檔
0—45V 1A
0—50V 1A
0—55V 1A
0—100V 檔
0—90V 0.5A
0—100V 0.5A
0—110V 0.5A
0—500V 檔
0—450V 0.1A
0—500V 0.1A
0—550V 0.1A
功耗限制電阻0—0.5MΩ分11檔，誤差不超過(guò)±10%
