摘要：后視圖與主視圖對稱，省略后視圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請人上海精密科學(xué)儀器有限公司;
- 發(fā)明人曹二華;
- 地址200233 上海市田林路168號
- 申請?zhí)?/b>CN200330107656.6
- 申請時(shí)間2003年10月30日
- 申請公布號CN3429480D
- 申請公布時(shí)間2005年03月02日
- 分類號10-07;
微分光學(xué)大氣分析儀望遠(yuǎn)系統(tǒng)機(jī)殼
該申請人其他專利（共192）
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