摘要：1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品名稱為比表面及孔徑分析儀；2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品用來檢測與分析微納米粉體材料的表面特征；3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品設(shè)計要點：本外觀設(shè)計要點在于產(chǎn)品的整體造型；4.本外觀設(shè)計產(chǎn)品指定主視圖為授權(quán)后公告視圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請人北京精微高博科學技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人鐘家湘;趙青力;張毅;
- 地址100055 北京市西城區(qū)廣安門外南濱河路23號1號樓2206
- 申請?zhí)?/b>CN201330617931.2
- 申請時間2013年12月12日
- 申請公布號CN302819776S
- 申請公布時間2014年05月14日
- 分類號10-05;
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