摘要：1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品名稱為比表面及孔徑分析儀；2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品用來(lái)檢測(cè)與分析微納米粉體材料的表面特征；3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)要點(diǎn)：本外觀設(shè)計(jì)要點(diǎn)在于產(chǎn)品的整體造型；4.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品指定主視圖為授權(quán)后公告視圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請(qǐng)人北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人鐘家湘;趙青力;張毅;
- 地址100055 北京市西城區(qū)廣安門外南濱河路23號(hào)1號(hào)樓2206
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201330617931.2
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年12月12日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN302819776S
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年05月14日
- 分類號(hào)10-05;
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