摘要：一種鍍層厚度測(cè)量?jī)x標(biāo)定裝置，由底座、傳感器、基塊和數(shù)顯千分表構(gòu)成，數(shù)顯千分表和傳感器分別設(shè)置在所述的底座的上部的兩端，傳感器的前端設(shè)置有螺桿，螺桿上設(shè)置有細(xì)牙螺紋，基塊一端與傳感器接觸設(shè)置，基塊的另一端與數(shù)顯千分表接觸設(shè)置，基塊的內(nèi)側(cè)設(shè)置有壓簧。本實(shí)用新型以空氣為介質(zhì)，通過(guò)變更傳感器與基塊的距離來(lái)標(biāo)定產(chǎn)品的刻度值，從根本上改變了用試片標(biāo)定儀器的方法。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人上海華陽(yáng)檢測(cè)儀器有限公司;
- 發(fā)明人莊琴芳;
- 地址200050上海市長(zhǎng)寧區(qū)昭化路515號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200620039423.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2006年02月10日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN2869766Y
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2007年02月14日
- 分類號(hào)G01B5/06(2006.01);
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