摘要：本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試雙折射干涉條紋，以分析熱應(yīng)力大小的顯微應(yīng)力儀。本實(shí)用新型是一種顯微應(yīng)力儀，包括內(nèi)部置有光源的工作臺(tái)；工作臺(tái)的上部、光源的正上方設(shè)有一安裝孔，該安裝孔內(nèi)設(shè)有起偏振鏡和磨砂玻璃板，所述起偏振鏡和磨砂玻璃板之間留有間隙。還包括顯微鏡主體和調(diào)焦支架，調(diào)焦支架固定在工作臺(tái)上，與顯微鏡主體固連。顯微鏡主體由檢測(cè)鏡筒和至少一個(gè)顯微放大光路裝置組成，顯微放大光路裝置位于檢測(cè)鏡筒的上方，與檢測(cè)鏡筒固連。檢測(cè)鏡筒內(nèi)，自下而上設(shè)有全波片和檢偏振鏡，全波片和檢偏振鏡之間留有間隙。本實(shí)用新型可測(cè)試微小物體的熱應(yīng)力，使用便捷且壽命長(zhǎng)，并能與攝像機(jī)或照相機(jī)聯(lián)接。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人上海索光光電技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人張洪光;楊雙臨;
- 地址200082 上海市虹口區(qū)唐山路902號(hào)二號(hào)樓五樓
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201320634271.3
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年10月14日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN203551461U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年04月16日
- 分類號(hào)G01N21/23(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I;
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