摘要：一種接觸式半自動(dòng)IC卡檢測(cè)裝置，包括檢測(cè)臺(tái)、用于對(duì)所述檢測(cè)臺(tái)上的待檢測(cè)卡片進(jìn)行測(cè)試的檢測(cè)組件、與待檢測(cè)卡片形成接觸的探針檢測(cè)組件及控制所述探針檢測(cè)裝置與待檢測(cè)卡片接觸或分離的電磁制動(dòng)組件。所述探針檢測(cè)組件與所述檢測(cè)組件連接，所述電磁制動(dòng)組件與所述探針檢測(cè)組件進(jìn)行連接。所述電磁制動(dòng)組件通過電磁力控制所述探針檢測(cè)組件在與待檢測(cè)卡片垂直的方向上與待檢測(cè)卡片接觸或分離。本實(shí)用新型的接觸式半自動(dòng)IC卡檢測(cè)裝置采用電磁制動(dòng)組件驅(qū)動(dòng)接觸式探針檢測(cè)組件進(jìn)行垂直于IC卡芯片的上下運(yùn)動(dòng)，解決了傳統(tǒng)讀寫機(jī)觸點(diǎn)與芯片的橫向滑動(dòng)接觸造成劃痕，也無需在印刷后另外增加保護(hù)膜的工序。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人武漢天喻信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司;
- 發(fā)明人魯凡;
- 地址430000 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)華工大學(xué)科技園
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201220708958.2
- 申請(qǐng)時(shí)間2012年12月20日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN203054112U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2013年07月10日
- 分類號(hào)G01R31/00(2006.01)I;
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