摘要：本實用新型提供的發(fā)光二極管補粉分光測試系統(tǒng)，能實現(xiàn)補粉分光測試的精確定位，主機的光譜處理模塊和光處理模塊連接以收和/或發(fā)數(shù)據(jù)；分光測量支架上夾具組合件設有定位托板，定位托板具有與發(fā)光二極管測試樣品和電極結構位置和外形相配合的定位孔，定位孔供測試樣品就位，積分球底部設有分離式壓板，積分球上設有與光處理模塊連接的光探測器以收和/或發(fā)采集自所述測試樣品的光和/或電信號，積分球通過光纖與光譜處理模塊相連以發(fā)送采集自所述測試樣品的光信號；當夾具組合件移動到預定位置時，定位托板與壓板壓緊配合以允許測試樣品穿過定位孔和壓板的定位口定位，并允許電極結構穿過所述定位孔和壓板的定位口而實現(xiàn)所述測試樣品電連接發(fā)光。
- 專利類型實用新型
- 申請人杭州賽美藍光電科技有限公司;
- 發(fā)明人鄭云;陳東;毛井生;
- 地址310000 浙江省杭州市拱墅區(qū)康中路16號3棟三樓300室
- 申請?zhí)?/b>CN201220197154.0
- 申請時間2012年05月03日
- 申請公布號CN202710180U
- 申請公布時間2013年01月30日
- 分類號G01J3/02(2006.01)I;G01J3/00(2006.01)I;
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