摘要：本實用新型涉及一種鍍層厚度測量裝置，其包括：X射線管，與高壓電源相連接，發(fā)射出X射線，所述X射線的發(fā)射方向向上；準(zhǔn)直器，設(shè)置在所述X射線管與被測物質(zhì)之間；射線安全聯(lián)鎖機構(gòu)，設(shè)置在X射線管與準(zhǔn)直器之間；射線檢測器，接收X射線照射到被測物質(zhì)后發(fā)出的熒光信號，并轉(zhuǎn)化為電信號；前置放大器、主放大器、多道分析器與中央控制電路順序連接；計算機，與所述中央控制電路相連接，接收所述中央控制電路采集的電信號并進行數(shù)據(jù)處理與計算，獲得被測物質(zhì)的測量結(jié)果。本實用新型采用下照式檢測結(jié)構(gòu)，測量時只需要將被測物質(zhì)的被測面朝下放置在檢測臺上即可，從而使儀器結(jié)構(gòu)簡單，使用方便。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;
- 發(fā)明人崔厚欣;吳速;楊長江;高會娟;劉大亮;
- 地址100085 北京市海淀區(qū)上地西路28號
- 申請?zhí)?/b>CN201020639594.8
- 申請時間2010年12月02日
- 申請公布號CN201876248U
- 申請公布時間2011年06月22日
- 分類號G01B15/02(2006.01)I;
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