摘要：本實(shí)用新型提供一種電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括有激光器、邁克耳遜干涉的外部光路系統(tǒng)、探測(cè)器系統(tǒng)及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)；所述激光器發(fā)出的激光光束透射到邁克耳遜干涉的外部光路系統(tǒng)，所述邁克耳遜干涉的外部光路系統(tǒng)將產(chǎn)生的光束透射到探測(cè)器系統(tǒng)，所述探測(cè)器系統(tǒng)將信號(hào)傳送到數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。本實(shí)用新型的效果是該儀器是專為大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)而設(shè)計(jì)的，能夠測(cè)量樣品的面內(nèi)位移和離面位移，充分體現(xiàn)了電子散斑干涉的原理，在軟件的編寫上，注重演示計(jì)算過程，充分的展示了散斑測(cè)量的方法及原理，達(dá)到了預(yù)期的目的。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人天津港東科技發(fā)展股份有限公司;
- 發(fā)明人李小明;杜振貢;
- 地址300384天津市南開區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)園區(qū)鑫茂科技園G座EF單元二層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200820144304.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2008年12月10日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN201307370Y
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2009年09月09日
- 分類號(hào)G09B25/06(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I;
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