摘要：本發(fā)明提供了一種數(shù)據測量方法，包括：獲取待測波形以及所述待測波形中需要測量的各個待測參數(shù)；為每一個所述待測參數(shù)建立與其對應的測量線程；將每一個所述待測參數(shù)進行測量時所需的初始值發(fā)送給與其對應的測量線程；觸發(fā)每一個測量線程，依據其各自接收到的初始值，同時對與其對應的待測參數(shù)進行測量。本發(fā)明提供的方法，通過為每一個所述待測參數(shù)建立與其對應的測量線程，觸發(fā)每一個測量線程，從而能夠同時對與其對應的待測參數(shù)進行測量，有效提高了參數(shù)測量速度及測試人員的測量效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人廣州致遠電子股份有限公司;
- 發(fā)明人周立功;
- 地址510000 廣東省廣州市天河區(qū)高普路1035號第2層204房
- 申請?zhí)?/b>CN201610855239.6
- 申請時間2016年09月26日
- 申請公布號CN106526269A
- 申請公布時間2017年03月22日
- 分類號G01R13/02(2006.01)I;
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