摘要：本發(fā)明公開了一種谷物均質(zhì)處理裝置，所述裝置包括動(dòng)力控制部分、進(jìn)樣研磨部分和樣品收集部分；所述進(jìn)樣研磨部分設(shè)置在所述裝置的中部，所述動(dòng)力控制部分設(shè)置在所述進(jìn)樣研磨部分的上部，所述樣品收集部分設(shè)置在所述進(jìn)樣研磨部分的下部。本發(fā)明提供的谷物均質(zhì)處理裝置適合于對(duì)谷物進(jìn)行質(zhì)量安全檢測時(shí)的現(xiàn)場均質(zhì)處理。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京六角體科技發(fā)展有限公司;
- 發(fā)明人賈東芬;劉仕敏;
- 地址101102 北京市通州區(qū)通州園金橋科技產(chǎn)業(yè)基地15號(hào)12C
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201610739146.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2016年08月26日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN106423396A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2017年02月22日
- 分類號(hào)B02C9/00(2006.01)I;
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