摘要：本發(fā)明提供了一種提高時(shí)間戳測量精度的方法及裝置，所述方法包括：獲取與被測周期信號(hào)具有預(yù)設(shè)頻率偏差的采樣時(shí)鐘；被測周期信號(hào)的頻率為f1，采樣時(shí)鐘的頻率為f2，f2＝(1+1/N)*f1，N≥2，N為正整數(shù)；利用采樣時(shí)鐘對被測周期信號(hào)進(jìn)行采樣，獲得一個(gè)周期性采樣信號(hào)，該周期性采樣信號(hào)的周期為被測周期信號(hào)的周期T1的N倍；當(dāng)在某時(shí)刻檢測到被測事件時(shí)，獲取與該時(shí)刻對應(yīng)的粗計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值n，以及細(xì)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值m，并根據(jù)n和m獲取被測事件的時(shí)間戳[n+m*(1/N)]*T2。本發(fā)明提供的提高時(shí)間戳測量精度的方法及裝置，實(shí)現(xiàn)起來較為方便，對器件性能要求較低，且根據(jù)需要能夠達(dá)到優(yōu)于傳統(tǒng)時(shí)鐘計(jì)數(shù)法的時(shí)間精度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京飛利信電子技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人楊振華;曹忻軍;陳洪順;徐統(tǒng)業(yè);
- 地址100191 北京市海淀區(qū)塔院志新村2號(hào)飛利信大廈9層
- 申請?zhí)?/b>CN201610787322.4
- 申請時(shí)間2016年08月30日
- 申請公布號(hào)CN106301656A
- 申請公布時(shí)間2017年01月04日
- 分類號(hào)H04J3/06(2006.01)I;
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