摘要：一種RTK定位精度的預(yù)報(bào)方法及系統(tǒng)，獲取電離層TEC預(yù)報(bào)信息；獲取根據(jù)RTK定位精度信息及電離層TEC信息建立的RTK精度模型；所述RTK定位精度信息包括：時(shí)間、基線及RTK定位精度；所述電離層TEC信息包括：所述時(shí)間、所述基線及電離層TEC；根據(jù)所述電離層TEC預(yù)報(bào)信息及所述RTK精度模型，確定RTK預(yù)報(bào)精度。通過上述RTK定位精度的預(yù)報(bào)方法及系統(tǒng)，用戶可以根據(jù)電離層TEC預(yù)報(bào)信息對(duì)RTK定位精度進(jìn)行預(yù)測(cè)，得到預(yù)測(cè)結(jié)果，即待報(bào)時(shí)間的RTK預(yù)報(bào)精度，從而可根據(jù)預(yù)測(cè)結(jié)果作進(jìn)一步處理。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人廣州市中海達(dá)測(cè)繪儀器有限公司;
- 發(fā)明人謝錫賢;方春水;羅澤彬;郭燦樺;廖少翔;
- 地址511400 廣東省廣州市番禺區(qū)東環(huán)街番禺大道北555號(hào)天安總部中心13號(hào)樓202房
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510998676.9
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年12月24日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105785409A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年07月20日
- 分類號(hào)G01S19/41(2010.01)I;
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